Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Huang, Y. - Total Ionizing Dose Radiation Effects Hardening Using Back-Gate Bias in Double-SOI Structure
Huang, Y. - Total Ionizing Dose Radiation Effects Hardening Using Back-Gate Bias in Double-SOI Structure
Статья
Автор: Huang, Y.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Total Ionizing Dose Radiation Effects Hardening Using Back-Gate Bias in Double-SOI Structure
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Huang, Y.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Total Ionizing Dose Radiation Effects Hardening Using Back-Gate Bias in Double-SOI Structure
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Huang, Y.
Total Ionizing Dose Radiation Effects Hardening Using Back-Gate Bias in Double-SOI Structure / Y.Huang, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2022. – Vol.69, No.3, Pt.1. – P.453-461. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2022.3145027. – Bibliogr.:23.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Huang, Y.
Total Ionizing Dose Radiation Effects Hardening Using Back-Gate Bias in Double-SOI Structure / Y.Huang, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2022. – Vol.69, No.3, Pt.1. – P.453-461. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2022.3145027. – Bibliogr.:23.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
IEEE Transactions on Nuclear Science Vol.69, No.3, Pt.1
2022 г.
ISBN отсутствует
Библиотека : ЦБ.ЧЗ
IEEE Transactions on Nuclear Science Vol.69, No.3, Pt.1
2022 г.
ISBN отсутствует
Библиотека : ЦБ.ЧЗ