Электронный каталог

Статья

Ma, T.
Influence of Fin and Finger Number on TID Degradation of 16-nm Bulk FinFETs Irradiated to Ultrahigh Doses / T.Ma, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2022. – Vol.69, No.3, Pt.1. – P.307-313. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3125769. – Bibliogr.:28.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$