Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Topko, B. - The Test Bench for BM@N Forward Silicon Tracker Front-End Electronics and Silicon Modules
Topko, B. - The Test Bench for BM@N Forward Silicon Tracker Front-End Electronics and Silicon Modules
Статья
Автор: Topko, B.
IEEE Transactions on Nuclear Science: The Test Bench for BM@N Forward Silicon Tracker Front-End Electronics and Silicon Modules
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Topko, B.
IEEE Transactions on Nuclear Science: The Test Bench for BM@N Forward Silicon Tracker Front-End Electronics and Silicon Modules
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Topko, B.
The Test Bench for BM@N Forward Silicon Tracker Front-End Electronics and Silicon Modules / B.Topko, Y.Topko, S.Khabarov, N.Zamyatin, E.Zubarev // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2022. – Vol.69, No.1. – P.98-104. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3136944. – Bibliogr.:19.
ОИЯИ = ОИЯИ (JINR)2022
Спец.(статьи,препринты) = С 344.3 - Ядерная электроника$
Спец.(статьи,препринты) = С 344.1м - Полупроводниковые детекторы
Спец.(статьи,препринты) = С 345 о - Электронная и ионная оптика. Формирование и анализ пучков
Topko, B.
The Test Bench for BM@N Forward Silicon Tracker Front-End Electronics and Silicon Modules / B.Topko, Y.Topko, S.Khabarov, N.Zamyatin, E.Zubarev // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2022. – Vol.69, No.1. – P.98-104. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3136944. – Bibliogr.:19.
ОИЯИ = ОИЯИ (JINR)2022
Спец.(статьи,препринты) = С 344.3 - Ядерная электроника$
Спец.(статьи,препринты) = С 344.1м - Полупроводниковые детекторы
Спец.(статьи,препринты) = С 345 о - Электронная и ионная оптика. Формирование и анализ пучков
Привязано к:
Доступно
1 из 1