Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Пчелинцев, К.П. - Моделирование деградации резонансно-туннельных диодов с использованием искусственных нейронных сетей
Пчелинцев, К.П. - Моделирование деградации резонансно-туннельных диодов с использованием искусственных нейронных сетей
Статья
Автор: Пчелинцев, К.П.
Поверхность: Моделирование деградации резонансно-туннельных диодов с использованием искусственных нейронных сетей
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Пчелинцев, К.П.
Поверхность: Моделирование деградации резонансно-туннельных диодов с использованием искусственных нейронных сетей
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Пчелинцев, К.П.
Моделирование деградации резонансно-туннельных диодов с использованием искусственных нейронных сетей / К.П.Пчелинцев, [и др.] // Поверхность. – 2022. – №1. – с.102-106. – URL: https://doi.org/10.1134/S102745102201013X. – Библиогр.:14.
Спец.(статьи,препринты) = С 325.1а - Нейронные сети и клеточные автоматы
Пчелинцев, К.П.
Моделирование деградации резонансно-туннельных диодов с использованием искусственных нейронных сетей / К.П.Пчелинцев, [и др.] // Поверхность. – 2022. – №1. – с.102-106. – URL: https://doi.org/10.1134/S102745102201013X. – Библиогр.:14.
Спец.(статьи,препринты) = С 325.1а - Нейронные сети и клеточные автоматы
