Электронный каталог

Статья

Pande, N.
Neutron-Induced Pulsewidth Distribution of Logic Gates Characterized Using a Pulse Shrinking Chain-Based Test Structure / N.Pande, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2021. – Vol.68, No.12. – p.2736-2747. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3125852. – Bibliogr.:21.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$