Электронный каталог

Статья

Vasyliev, A.V.
Comparative Analysis of Acceleration Gradients for Chip Structures with Different Refractive Indices / A.V.Vasyliev, [et al.] // Вопросы атомной науки и техники. Сер. Ядерно-физические исследования = Питання атомноi науки i технiки = Problems of Atomic Science and Technology. Ser. Nuclear Physics Investigations. – 2021. – No.6(136). – p.75-79. – URL: https://doi.org/10.46813/2021-136-075. – Bibliogr.:25.



Спец.(статьи,препринты) = С 345 л - Новые методы ускорения