Электронный каталог -Wang, J. - Study of SEU Sensitivity of SRAM-Based Radiation Monitors in 65-nm CMOS- Absopac

Статья
Автор: Wang, J.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Study of SEU Sensitivity of SRAM-Based Radiation Monitors in 65-nm CMOS
б.г.
ISBN отсутствует

полный текст

На полку

Статья

Wang, J.
Study of SEU Sensitivity of SRAM-Based Radiation Monitors in 65-nm CMOS / J.Wang, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2021. – Vol.68, No.5, Pt.1. – p.913-920. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3072328. – Bibliogr.:28.

Спец.(статьи,препринты) = С 349 - Дозиметрия и физика защиты

Электронный каталог

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Wang, J. - Study of SEU Sensitivity of SRAM-Based Radiation Monitors in 65-nm CMOS

Wang, J. - Study of SEU Sensitivity of SRAM-Based Radiation Monitors in 65-nm CMOS

Электронный каталог

Поиск :

Личный кабинет :

Электронный каталог: Wang, J. - Study of SEU Sensitivity of SRAM-Based Radiation Monitors in 65-nm CMOS

Wang, J. - Study of SEU Sensitivity of SRAM-Based Radiation Monitors in 65-nm CMOS

Привязано к: