Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Surendranathan, U. - Gamma-Ray-Induced Error Pattern Analysis for MLC 3-D NAND Flash Memories
Surendranathan, U. - Gamma-Ray-Induced Error Pattern Analysis for MLC 3-D NAND Flash Memories
Статья
Автор: Surendranathan, U.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Gamma-Ray-Induced Error Pattern Analysis for MLC 3-D NAND Flash Memories
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Surendranathan, U.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Gamma-Ray-Induced Error Pattern Analysis for MLC 3-D NAND Flash Memories
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Surendranathan, U.
Gamma-Ray-Induced Error Pattern Analysis for MLC 3-D NAND Flash Memories / U.Surendranathan, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2021. – Vol.68, No.5, Pt.1. – p.733-739. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3059186. – Bibliogr.:22.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Surendranathan, U.
Gamma-Ray-Induced Error Pattern Analysis for MLC 3-D NAND Flash Memories / U.Surendranathan, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2021. – Vol.68, No.5, Pt.1. – p.733-739. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3059186. – Bibliogr.:22.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$