Электронный каталог

Статья

Kobayashi, D.
Scaling Trends of Digital Single-Event Effects: A Survey of SEU and SET Parameters and Comparison with Transistor Performance / D.Kobayashi // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2021. – Vol.68, No.2. – p.124-148. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2020.3044659. – Bibliogr.:228.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$