Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Романов, Д.А. - Методы двухкристальной рентгеновской дифрактометрии и топографии в анализе реальной структуры кри...
Романов, Д.А. - Методы двухкристальной рентгеновской дифрактометрии и топографии в анализе реальной структуры кри...
Статья
Автор: Романов, Д.А.
Поверхность: Методы двухкристальной рентгеновской дифрактометрии и топографии в анализе реальной структуры кри...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Романов, Д.А.
Поверхность: Методы двухкристальной рентгеновской дифрактометрии и топографии в анализе реальной структуры кри...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Романов, Д.А.
Методы двухкристальной рентгеновской дифрактометрии и топографии в анализе реальной структуры кристаллов / Д.А.Романов, [и др.] // Поверхность. – 2020. – №11. – с.3-11. – URL: https://doi.org/10.1134/S1027451020060130. – Библиогр.:40.
Спец.(статьи,препринты) = С 332.8 - Синхротронное излучение. Лазеры на свободных электронах. Получение и использование рентгеновских лучей
Романов, Д.А.
Методы двухкристальной рентгеновской дифрактометрии и топографии в анализе реальной структуры кристаллов / Д.А.Романов, [и др.] // Поверхность. – 2020. – №11. – с.3-11. – URL: https://doi.org/10.1134/S1027451020060130. – Библиогр.:40.
Спец.(статьи,препринты) = С 332.8 - Синхротронное излучение. Лазеры на свободных электронах. Получение и использование рентгеновских лучей