Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Головин, Б.М. - О возможном механизме потерь заряда во входных окнах полупроводниковых детекторов
Головин, Б.М. - О возможном механизме потерь заряда во входных окнах полупроводниковых детекторов
Нет экз.
Препринты
Автор: Головин, Б.М.
О возможном механизме потерь заряда во входных окнах полупроводниковых детекторов
Серия: ОИЯИ
Издательство: ОИЯИ, 1982 г.
ISBN отсутствует
Автор: Головин, Б.М.
О возможном механизме потерь заряда во входных окнах полупроводниковых детекторов
Серия: ОИЯИ
Издательство: ОИЯИ, 1982 г.
ISBN отсутствует
Препринты
Головин, Б.М.
О возможном механизме потерь заряда во входных окнах полупроводниковых детекторов / Б.М.Головин, В.Ф.Кушнирук, Л.А.Пермякова. – Дубна : ОИЯИ, 1982. – 7 с. : ил. – (ОИЯИ ; 15-82-520). – URL: http://inis.jinr.ru/sl/NTBLIB/JINR-15-82-520.pdf. – Библиогр.: 5.
ОИЯИ = ОИЯИ (JINR)
Головин, Б.М.
О возможном механизме потерь заряда во входных окнах полупроводниковых детекторов / Б.М.Головин, В.Ф.Кушнирук, Л.А.Пермякова. – Дубна : ОИЯИ, 1982. – 7 с. : ил. – (ОИЯИ ; 15-82-520). – URL: http://inis.jinr.ru/sl/NTBLIB/JINR-15-82-520.pdf. – Библиогр.: 5.
ОИЯИ = ОИЯИ (JINR)