Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Xu, R. - Single-Event Upset Responses of Metal–Oxide–Metal Capacitors and Diodes Used in Bulk 65-nm CMOS A...
Xu, R. - Single-Event Upset Responses of Metal–Oxide–Metal Capacitors and Diodes Used in Bulk 65-nm CMOS A...
Статья
Автор: Xu, R.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Single-Event Upset Responses of Metal–Oxide–Metal Capacitors and Diodes Used in Bulk 65-nm CMOS A...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Xu, R.
IEEE Transactions on Nuclear Science: Single-Event Upset Responses of Metal–Oxide–Metal Capacitors and Diodes Used in Bulk 65-nm CMOS A...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Xu, R.
Single-Event Upset Responses of Metal–Oxide–Metal Capacitors and Diodes Used in Bulk 65-nm CMOS Analog Circuits / R.Xu, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2020. – Vol.67, No.4, Pt.2. – p.698-707. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2020.2974229. – Bibliogr.:28.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Xu, R.
Single-Event Upset Responses of Metal–Oxide–Metal Capacitors and Diodes Used in Bulk 65-nm CMOS Analog Circuits / R.Xu, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2020. – Vol.67, No.4, Pt.2. – p.698-707. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2020.2974229. – Bibliogr.:28.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Привязано к:
Доступно
1 из 1
Выпуск
IEEE Transactions on Nuclear Science Vol.67, No.4, Pt.2
2020 г.
ISBN отсутствует
Библиотека : ЦБ.ЧЗ
IEEE Transactions on Nuclear Science Vol.67, No.4, Pt.2
2020 г.
ISBN отсутствует
Библиотека : ЦБ.ЧЗ