Электронный каталог

Статья

Abdelwahab, M.S.
Worst Case Test Vectors for Sequential Circuits in Flash-Based FPGAs Exposed to Total Dose / M.S.Abdelwahab, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2019. – Vol.66, No.7, Pt.2. – p.1642-1650. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2019.2920449. – Bibliogr.:14.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$