Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Бачурин, В.И. - Исследование многослойных тонкопленочных структур методом резерфордовского обратного рассеяния
Бачурин, В.И. - Исследование многослойных тонкопленочных структур методом резерфордовского обратного рассеяния
Статья
Автор: Бачурин, В.И.
Журнал технической физики. Письма: Исследование многослойных тонкопленочных структур методом резерфордовского обратного рассеяния
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Бачурин, В.И.
Журнал технической физики. Письма: Исследование многослойных тонкопленочных структур методом резерфордовского обратного рассеяния
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Бачурин, В.И.
Исследование многослойных тонкопленочных структур методом резерфордовского обратного рассеяния / В.И.Бачурин, [и др.] // Журнал технической физики. Письма. – 2019. – Т.45, №11/12. – с.26-29 [№12]. – URL: https://journals.ioffe.ru/articles/viewPDF/47914. – Библиогр.:8.
Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$
Бачурин, В.И.
Исследование многослойных тонкопленочных структур методом резерфордовского обратного рассеяния / В.И.Бачурин, [и др.] // Журнал технической физики. Письма. – 2019. – Т.45, №11/12. – с.26-29 [№12]. – URL: https://journals.ioffe.ru/articles/viewPDF/47914. – Библиогр.:8.
Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$
Привязано к:
Доступно
1 из 1