Электронный каталог

Статья

Liao, W.
Measurement and Mechanism Investigation of Negative and Positive Muon-Induced Upsets in 65-nm Bulk SRAMs / W.Liao, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2018. – Vol.65, No.8, Pt.1. – p.1734-1741. – URL: https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2825469. – Bibliogr.:21.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Спец.(статьи,препринты) = С 346.3 - Мю-мезоны