Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Астафьев, С.Б. - Применение частотно-временного вейвлет-анализа в рефрактометрии тонких пленок
Астафьев, С.Б. - Применение частотно-временного вейвлет-анализа в рефрактометрии тонких пленок
Статья
Автор: Астафьев, С.Б.
Кристаллография: Применение частотно-временного вейвлет-анализа в рефрактометрии тонких пленок
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Астафьев, С.Б.
Кристаллография: Применение частотно-временного вейвлет-анализа в рефрактометрии тонких пленок
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Астафьев, С.Б.
Применение частотно-временного вейвлет-анализа в рефрактометрии тонких пленок / С.Б.Астафьев, [и др.] // Кристаллография. – 2017. – Т.62, №2. – с.311-316. – URL: http://dx.doi.org/10.1134/S1063774517020055. – Библиогр.:7.
Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$
Астафьев, С.Б.
Применение частотно-временного вейвлет-анализа в рефрактометрии тонких пленок / С.Б.Астафьев, [и др.] // Кристаллография. – 2017. – Т.62, №2. – с.311-316. – URL: http://dx.doi.org/10.1134/S1063774517020055. – Библиогр.:7.
Спец.(статьи,препринты) = С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$
