Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Zhang, Y. - Primary Single Event Effect Studies on Xilinx 28-nm System-on-Chip (SoC)
Zhang, Y. - Primary Single Event Effect Studies on Xilinx 28-nm System-on-Chip (SoC)
Статья
Автор: Zhang, Y.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A: Primary Single Event Effect Studies on Xilinx 28-nm System-on-Chip (SoC)
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Zhang, Y.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A: Primary Single Event Effect Studies on Xilinx 28-nm System-on-Chip (SoC)
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Zhang, Y.
Primary Single Event Effect Studies on Xilinx 28-nm System-on-Chip (SoC) / Y.Zhang, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A. – 2016. – Vol.831. – p.339-343. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2016.05.120. – Bibliogr.:7.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Zhang, Y.
Primary Single Event Effect Studies on Xilinx 28-nm System-on-Chip (SoC) / Y.Zhang, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A. – 2016. – Vol.831. – p.339-343. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2016.05.120. – Bibliogr.:7.
Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$