Электронный каталог

Статья

Zhang, Y.
Charge Collection and Non-Ionizing Radiation Tolerance of CMOS Pixel Sensors Using a 0.18 *mm CMOS Process / Y.Zhang, [et al.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A. – 2016. – Vol.831. – p.99-104. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2016.03.031. – Bibliogr.:30.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.1м - Полупроводниковые детекторы
Спец.(статьи,препринты) = С 344.1т - Вопросы измерений в трековых камерах