Электронный каталог

Статья

Jafari, H.
Estimation of Temperature Impact on Gamma-Induced Degradation Parameters of N-Channel MOS Transistor / H.Jafari, S.A.H.Feghhi // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A. – 2015. – Vol.777. – p.28-35. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2014.12.066. – Bibliogr.:26.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$