Электронный каталог

Статья

van Gastel, R.
Backscattered Helium Spectroscopy in the Helium Ion Microscope: Principles, Resolution and Applications / R.van Gastel, [a.o.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B. – 2015. – Vol.344. – p.44-49. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2014.11.073. – Bibliogr.:13.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.4б - Методы приготовления тонких пленок$