Электронный каталог

Статья

Chen, D.
Single-Event Effect Performance of a Commercial Embedded ReRAM / D.Chen, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2014. – Vol.61, No.6, Pt.1. – p.3088-3094. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2014.2361488. – Bibliogr.:25.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$