Электронный каталог

Статья

Johnston, A.H.
Field Dependence of Charge Yield in Silicon Dioxide / A.H.Johnston, [et al.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2014. – Vol.61, No.6, Pt.1. – p.2818-2825. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2014.2367512. – Bibliogr.:28.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.1м - Полупроводниковые детекторы