Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: IEEE Transactions on Nuclear Science
IEEE Transactions on Nuclear Science
Доступно
1 из 1
1 из 1
Периодическое издание
IEEE Transactions on Nuclear Science. – New York : The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1956-1998; 2000-2022. – URL: http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?puNumber=23. – Since 2023 - see Electronic Journal. – ISSN 0018-9499.
Выпуск
IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2014. – Vol.61, No.6, Pt.1. – P.2797-3576.
Бюллетени = 16/15
IEEE Transactions on Nuclear Science. – New York : The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1956-1998; 2000-2022. – URL: http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?puNumber=23. – Since 2023 - see Electronic Journal. – ISSN 0018-9499.
Выпуск
IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2014. – Vol.61, No.6, Pt.1. – P.2797-3576.
Бюллетени = 16/15
Филиал | Фонд | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
---|---|---|---|---|---|
ЦБ.ЧЗ | 0 | 1 | 1 | 1 | Заказать |
Привязано к:
Периодическое издание
IEEE Transactions on Nuclear Science
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1956-1998; 2000-2022 г.
ISBN отсутствует
IEEE Transactions on Nuclear Science
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1956-1998; 2000-2022 г.
ISBN отсутствует
Связанные описания:
Статья
Zhang, C. X.
Electrical Stress and Total Ionizing Dose Effects on MoS&sub(2) Transistors
б.г.
ISBN отсутствует
Zhang, C. X.
Electrical Stress and Total Ionizing Dose Effects on MoS&sub(2) Transistors
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Zhang, C. X.
Total Ionizing Dose Effects on hBN Encapsulated Graphene Devices
б.г.
ISBN отсутствует
Zhang, C. X.
Total Ionizing Dose Effects on hBN Encapsulated Graphene Devices
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Dhombres, S.
Study of a Thermal Annealing Approach for Very High Total Dose Environments
б.г.
ISBN отсутствует
Dhombres, S.
Study of a Thermal Annealing Approach for Very High Total Dose Environments
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Bagatin, M.
Sample-to-Sample Variability and Bit Errors Induced by Total Dose in Advanced NAND Flash Memories
б.г.
ISBN отсутствует
Bagatin, M.
Sample-to-Sample Variability and Bit Errors Induced by Total Dose in Advanced NAND Flash Memories
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Dodds, N. A.
Hardness Assurance for Proton Direct Ionization-Induced SEEs Using a High-Energy Proton Beam
б.г.
ISBN отсутствует
Dodds, N. A.
Hardness Assurance for Proton Direct Ionization-Induced SEEs Using a High-Energy Proton Beam
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Hehr, B. D.
Analysis of Radiation Effects in Silicon Using Kinetic Monte Carlo Methods
б.г.
ISBN отсутствует
Hehr, B. D.
Analysis of Radiation Effects in Silicon Using Kinetic Monte Carlo Methods
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Mahalanabis, D.
Investigation of Single Event Induced Soft Errors in Programmable Metallization Cell Memory
б.г.
ISBN отсутствует
Mahalanabis, D.
Investigation of Single Event Induced Soft Errors in Programmable Metallization Cell Memory
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Artola, L.
Single-Event Latchup Modeling Based on Coupled Physical and Electrical Transient Simulations in C...
б.г.
ISBN отсутствует
Artola, L.
Single-Event Latchup Modeling Based on Coupled Physical and Electrical Transient Simulations in C...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Glorieux, M.
Random-Walk Drift-Diffusion Charge-Collection Model For Reverse-Biased Junctions Embedded in Circ...
б.г.
ISBN отсутствует
Glorieux, M.
Random-Walk Drift-Diffusion Charge-Collection Model For Reverse-Biased Junctions Embedded in Circ...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Bennett, W. G.
Dynamic Modeling of Radiation-Induced State Changes in HfO&sub(2)/Hf 1T1R RRAM
б.г.
ISBN отсутствует
Bennett, W. G.
Dynamic Modeling of Radiation-Induced State Changes in HfO&sub(2)/Hf 1T1R RRAM
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Tran, L. T.
Ultra-Thin 3-D Detector: Charge Collection Characterization and Application for Microdosimetry
б.г.
ISBN отсутствует
Tran, L. T.
Ultra-Thin 3-D Detector: Charge Collection Characterization and Application for Microdosimetry
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Danzeca, S.
Qualification and Characterization of SRAM Memories Used as Radiation Sensors in the LHC
б.г.
ISBN отсутствует
Danzeca, S.
Qualification and Characterization of SRAM Memories Used as Radiation Sensors in the LHC
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Li, Y.
Fully-Depleted Silicon-on-Insulator Devices for Radiation Dosimetry in Cancer Therapy
б.г.
ISBN отсутствует
Li, Y.
Fully-Depleted Silicon-on-Insulator Devices for Radiation Dosimetry in Cancer Therapy
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Dandamudi, P.
Flexible Sensors Based on Radiation-Induced Diffusion of Ag in Chalcogenide Glass
б.г.
ISBN отсутствует
Dandamudi, P.
Flexible Sensors Based on Radiation-Induced Diffusion of Ag in Chalcogenide Glass
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Khachatrian, A.
A Dosimetry Methodology for Two-Photon Absorption Induced Single-Event Effects Measurements
б.г.
ISBN отсутствует
Khachatrian, A.
A Dosimetry Methodology for Two-Photon Absorption Induced Single-Event Effects Measurements
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Kato, T.
Neutron Shielding Effect of Stacked Servers and Its Impact on Reduction of Soft Error Rate
б.г.
ISBN отсутствует
Kato, T.
Neutron Shielding Effect of Stacked Servers and Its Impact on Reduction of Soft Error Rate
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Boscher, D.
In-Flight Measurements of Radiation Environment on Board the Argentinean Satellite SAC-D
б.г.
ISBN отсутствует
Boscher, D.
In-Flight Measurements of Radiation Environment on Board the Argentinean Satellite SAC-D
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Saoud, T. S.
Use of CCD to Detect Terrestrial Cosmic Rays at Ground Level: Altitude vs. Underground Experiment...
б.г.
ISBN отсутствует
Saoud, T. S.
Use of CCD to Detect Terrestrial Cosmic Rays at Ground Level: Altitude vs. Underground Experiment...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Borisov, S.
Angular Distribution of Protons Measured by the Energetic Particle Telescope on PROBA-V
б.г.
ISBN отсутствует
Borisov, S.
Angular Distribution of Protons Measured by the Energetic Particle Telescope on PROBA-V
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Xapsos, M. A.
How Long Can the Hubble Space Telescope Operate Reliably? - A Total Dose Perspective
б.г.
ISBN отсутствует
Xapsos, M. A.
How Long Can the Hubble Space Telescope Operate Reliably? - A Total Dose Perspective
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Girard, S.
Proton Irradiation Response of Hole-Assisted Carbon Coated Erbium-Doped Fiber Amplifiers
б.г.
ISBN отсутствует
Girard, S.
Proton Irradiation Response of Hole-Assisted Carbon Coated Erbium-Doped Fiber Amplifiers
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Mahatme, N. N.
Kernel-Based Circuit Partition Approach to Mitigate Combinational Logic Soft Errors
б.г.
ISBN отсутствует
Mahatme, N. N.
Kernel-Based Circuit Partition Approach to Mitigate Combinational Logic Soft Errors
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Chabi, D.
Design and Analysis of Radiation Hardened Sensing Circuits for Spin Transfer Torque Magnetic Memo...
б.г.
ISBN отсутствует
Chabi, D.
Design and Analysis of Radiation Hardened Sensing Circuits for Spin Transfer Torque Magnetic Memo...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Howard, D. C.
Mitigation of Total Dose Performance Degradation in an 8–18 GHz SiGe Reconfigurable Receiver
б.г.
ISBN отсутствует
Howard, D. C.
Mitigation of Total Dose Performance Degradation in an 8–18 GHz SiGe Reconfigurable Receiver
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Jung, S.
An Investigation of Single-Event Transients in C-SiGe HBT on SOI Current Mirror Circuits
б.г.
ISBN отсутствует
Jung, S.
An Investigation of Single-Event Transients in C-SiGe HBT on SOI Current Mirror Circuits
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Hubert, G.
SET and SEU Analyses Based on Experiments and Multi-Physics Modeling Applied to the ATMEL CMOS Li...
б.г.
ISBN отсутствует
Hubert, G.
SET and SEU Analyses Based on Experiments and Multi-Physics Modeling Applied to the ATMEL CMOS Li...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Chen, Y. P.
Single-Event Transient Induced Harmonic Errors in Digitally Controlled Ring Oscillators
б.г.
ISBN отсутствует
Chen, Y. P.
Single-Event Transient Induced Harmonic Errors in Digitally Controlled Ring Oscillators
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Lourenco, N. E.
On the Transient Response of a Complementary (npn + pnp) SiGe HBT BiCMOS Technology
б.г.
ISBN отсутствует
Lourenco, N. E.
On the Transient Response of a Complementary (npn + pnp) SiGe HBT BiCMOS Technology
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Kastensmidt, F. L.
Laser Testing Methodology for Diagnosing Diverse Soft Errors in a Nanoscale SRAM-Based FPGA
б.г.
ISBN отсутствует
Kastensmidt, F. L.
Laser Testing Methodology for Diagnosing Diverse Soft Errors in a Nanoscale SRAM-Based FPGA
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Velazco, R.
Evidence of the Robustness of a COTS Soft-Error Free SRAM to Neutron Radiation
б.г.
ISBN отсутствует
Velazco, R.
Evidence of the Robustness of a COTS Soft-Error Free SRAM to Neutron Radiation
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Uznanski, S.
The Effect of Proton Energy on SEU Cross Section of a 16 Mbit TFT PMOS SRAM with DRAM Capacitors
б.г.
ISBN отсутствует
Uznanski, S.
The Effect of Proton Energy on SEU Cross Section of a 16 Mbit TFT PMOS SRAM with DRAM Capacitors
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Samaras, A.
Experimental Characterization and Simulation of Electron-Induced SEU in 45-nm CMOS Technology
б.г.
ISBN отсутствует
Samaras, A.
Experimental Characterization and Simulation of Electron-Induced SEU in 45-nm CMOS Technology
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Roig, F.
Impact of Neutron-Induced Displacement Damage on the ATREE Response in LM124 Operational Amplifier
б.г.
ISBN отсутствует
Roig, F.
Impact of Neutron-Induced Displacement Damage on the ATREE Response in LM124 Operational Amplifier
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Popelka, S.
Effect of Neutron Irradiation on High Voltage 4H-SiC Vertical JFET Characteristics: Characterizat...
б.г.
ISBN отсутствует
Popelka, S.
Effect of Neutron Irradiation on High Voltage 4H-SiC Vertical JFET Characteristics: Characterizat...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Taggart, J. L.
Ionizing Radiation Effects on Nonvolatile Memory Properties of Programmable Metallization Cells
б.г.
ISBN отсутствует
Taggart, J. L.
Ionizing Radiation Effects on Nonvolatile Memory Properties of Programmable Metallization Cells
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Weeden-Wright, S. L.
TID and Displacement Damage Resilience of 1T1R HfO&sub(2)/Hf Resistive Memories
б.г.
ISBN отсутствует
Weeden-Wright, S. L.
TID and Displacement Damage Resilience of 1T1R HfO&sub(2)/Hf Resistive Memories
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Alles, M. L.
Total-Ionizing-Dose Response of Narrow, Long Channel 45 nm PDSOI Transistors
б.г.
ISBN отсутствует
Alles, M. L.
Total-Ionizing-Dose Response of Narrow, Long Channel 45 nm PDSOI Transistors
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Fleetwood, Z. E.
Evaluation of Enhanced Low Dose Rate Sensitivity in Fourth-Generation SiGe HBTs
б.г.
ISBN отсутствует
Fleetwood, Z. E.
Evaluation of Enhanced Low Dose Rate Sensitivity in Fourth-Generation SiGe HBTs
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Pellish, J. A.
Criticality of Low-Energy Protons in Single-Event Effects Testing of Highly-Scaled Technologies
б.г.
ISBN отсутствует
Pellish, J. A.
Criticality of Low-Energy Protons in Single-Event Effects Testing of Highly-Scaled Technologies
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Scheick, L.
Determination of Single-Event Effect Application Requirements for Enhancement Mode Gallium Nitrid...
б.г.
ISBN отсутствует
Scheick, L.
Determination of Single-Event Effect Application Requirements for Enhancement Mode Gallium Nitrid...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Nichol, T.
Structural and Material Changes in Thin Film Chalcogenide Glasses Under Ar-Ion Irradiation
б.г.
ISBN отсутствует
Nichol, T.
Structural and Material Changes in Thin Film Chalcogenide Glasses Under Ar-Ion Irradiation
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Duan, G. X.
Bias Dependence of Total Ionizing Dose Effects in SiGe-SiO&sub(2)/HfO&sub(2) pMOS FinFETs
б.г.
ISBN отсутствует
Duan, G. X.
Bias Dependence of Total Ionizing Dose Effects in SiGe-SiO&sub(2)/HfO&sub(2) pMOS FinFETs
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Raine, M.
Exploring the Kinetics of Formation and Annealing of Single Particle Displacement Damage in Micro...
б.г.
ISBN отсутствует
Raine, M.
Exploring the Kinetics of Formation and Annealing of Single Particle Displacement Damage in Micro...
б.г.
ISBN отсутствует