Электронный каталог

Статья

Takabayashi, Y.
New Method for Measuring Beam Profiles Using a Parametric X-Ray Pinhole Camera / Y.Takabayashi, K.Sumitani // Physics Letters A : пер. с англ. – 2013. – Vol.377, No.38. – p.2577-2580. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.physleta.2013.07.055. – Bibliogr.:32.



Спец.(статьи,препринты) = С 332.8 - Синхротронное излучение. Лазеры на свободных электронах. Получение и использование рентгеновских лучей