Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Ockeloen, C. F. - Quantum Metrology with a Scanning Probe Atom Interferometer
Ockeloen, C. F. - Quantum Metrology with a Scanning Probe Atom Interferometer
Статья
Автор: Ockeloen, C. F.
Physical Review Letters: Quantum Metrology with a Scanning Probe Atom Interferometer
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Ockeloen, C. F.
Physical Review Letters: Quantum Metrology with a Scanning Probe Atom Interferometer
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ockeloen, C.F.
Quantum Metrology with a Scanning Probe Atom Interferometer / C.F.Ockeloen, [a.o.] // Physical Review Letters. – 2013. – Vol.111, No.14. – p.143001. – URL: http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.111.143001. – Bibliogr.:39.
Спец.(статьи,препринты) = С 332 - Электромагнитные взаимодействия
Ockeloen, C.F.
Quantum Metrology with a Scanning Probe Atom Interferometer / C.F.Ockeloen, [a.o.] // Physical Review Letters. – 2013. – Vol.111, No.14. – p.143001. – URL: http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.111.143001. – Bibliogr.:39.
Спец.(статьи,препринты) = С 332 - Электромагнитные взаимодействия