Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Dielectric and Conductor-Loss Characterization and Measurements on Electronic Packaging Materials
Dielectric and Conductor-Loss Characterization and Measurements on Electronic Packaging Materials
Доступно
1 из 1
1 из 1
Книга
Автор:
Dielectric and Conductor-Loss Characterization and Measurements on Electronic Packaging Materials
Серия: NIST Technical Note
Издательство: NIST, 2001 г.
ISBN отсутствует
Автор:
Dielectric and Conductor-Loss Characterization and Measurements on Electronic Packaging Materials
Серия: NIST Technical Note
Издательство: NIST, 2001 г.
ISBN отсутствует
Заказать 
На полку
Книга
С36.72 D-55
Dielectric and Conductor-Loss Characterization and Measurements on Electronic Packaging Materials / J.Baker-Jarvis, M.D.Janezic, C.L.Holloway, [et al.]. – Boulder : NIST, 2001. – IV, 152 p. : il. – (NIST Technical Note ; 1520). – Bibliogr.: p.132-150.
С36.72
Индексный (книги) = С 36.72 - Физика диэлектриков. Структура диэлектриков. Кристаллическая решетка диэлектриков. Структурный анализ диэлектриков. Твердые растворы диэлектриков. Аморфные диэлектрики. Тонкие слои диэлектриков. Радиационные эффекты в диэлектриках. Механические свойства монокристаллов и диэлектриков
С36.72 D-55
Dielectric and Conductor-Loss Characterization and Measurements on Electronic Packaging Materials / J.Baker-Jarvis, M.D.Janezic, C.L.Holloway, [et al.]. – Boulder : NIST, 2001. – IV, 152 p. : il. – (NIST Technical Note ; 1520). – Bibliogr.: p.132-150.
С36.72
Индексный (книги) = С 36.72 - Физика диэлектриков. Структура диэлектриков. Кристаллическая решетка диэлектриков. Структурный анализ диэлектриков. Твердые растворы диэлектриков. Аморфные диэлектрики. Тонкие слои диэлектриков. Радиационные эффекты в диэлектриках. Механические свойства монокристаллов и диэлектриков
| Филиал | Фонд | Всего | Доступно для брони | Доступно для выдачи | Бронирование |
|---|---|---|---|---|---|
| ЗИЛ | 1 | 1 | 1 | Заказать |