Электронный каталог

Статья

Huang, H.
Total Dose Irradiation-Induced Degradation of Hysteresis Effect in Partially Depleted Silicon-on-Insulator NMOSFETs / H.Huang, [a.o.] // IEEE Transactions on Nuclear Science. – 2013. – Vol.60,No.2, Pt.2. – p.1354-1360. – URL: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2013.2239600. – Bibliogr.:22.



Спец.(статьи,препринты) = С 349.1 - Действие излучения на материалы$