Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Lefaix-Jeuland, H. - SIMS Depth Profiling of Implanted Helium in Pure Iron Using CsHe*+ Detection Mode
Lefaix-Jeuland, H. - SIMS Depth Profiling of Implanted Helium in Pure Iron Using CsHe*+ Detection Mode
Статья
Автор: Lefaix-Jeuland, H.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B: SIMS Depth Profiling of Implanted Helium in Pure Iron Using CsHe*+ Detection Mode
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Lefaix-Jeuland, H.
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B: SIMS Depth Profiling of Implanted Helium in Pure Iron Using CsHe*+ Detection Mode
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Lefaix-Jeuland, H.
SIMS Depth Profiling of Implanted Helium in Pure Iron Using CsHe*+ Detection Mode / H.Lefaix-Jeuland, [a.o.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B : Beam Interactins with Materials and Atoms. – 2013. – Vol.295. – p.69-71. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2012.11.003. – Bibliogr.:8.
Спец.(статьи,препринты) = С 44 г - Физико-химические методы анализа элементов. Анализ с помощью ядерных методов
Lefaix-Jeuland, H.
SIMS Depth Profiling of Implanted Helium in Pure Iron Using CsHe*+ Detection Mode / H.Lefaix-Jeuland, [a.o.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B : Beam Interactins with Materials and Atoms. – 2013. – Vol.295. – p.69-71. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2012.11.003. – Bibliogr.:8.
Спец.(статьи,препринты) = С 44 г - Физико-химические методы анализа элементов. Анализ с помощью ядерных методов