Электронный каталог

Статья

Leon, Y.
PIXE (Particle Induced X-Ray Emission): A Non-Destructive Analysis Method Adapted to the Thin Decorative Coatings of Antique Ceramics / Y.Leon, [a.o.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B : Beam Interactins with Materials and Atoms. – 2012. – Vol.291. – p.45-52. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2012.09.010. – Bibliogr.:26.



Спец.(статьи,препринты) = С 44 г - Физико-химические методы анализа элементов. Анализ с помощью ядерных методов