Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Емельянов, Е.А. - Морфология поверхности и кристаллографические свойства пленок GaAs, выращенных методом МЛЭ на виц...
Емельянов, Е.А. - Морфология поверхности и кристаллографические свойства пленок GaAs, выращенных методом МЛЭ на виц...
Статья
Автор: Емельянов, Е.А.
Известия высших учебных заведений. Физика: Морфология поверхности и кристаллографические свойства пленок GaAs, выращенных методом МЛЭ на виц...
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Емельянов, Е.А.
Известия высших учебных заведений. Физика: Морфология поверхности и кристаллографические свойства пленок GaAs, выращенных методом МЛЭ на виц...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Емельянов, Е.А.
Морфология поверхности и кристаллографические свойства пленок GaAs, выращенных методом МЛЭ на вицинальных подложках Si(001) / Е.А.Емельянов, [и др.] // Известия высших учебных заведений. Физика : Научно-технический журнал. – 2013. – Т.56, No.1. – с.49-54. – Библиогр.:10.
Спец.(статьи,препринты) = С 325.8 - Квантовые объекты низкой размерности (за исключением эффектов Холла)$
Емельянов, Е.А.
Морфология поверхности и кристаллографические свойства пленок GaAs, выращенных методом МЛЭ на вицинальных подложках Si(001) / Е.А.Емельянов, [и др.] // Известия высших учебных заведений. Физика : Научно-технический журнал. – 2013. – Т.56, No.1. – с.49-54. – Библиогр.:10.
Спец.(статьи,препринты) = С 325.8 - Квантовые объекты низкой размерности (за исключением эффектов Холла)$