Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Scheffzuk, Ch. - The Strain/Stress Diffractometer Epsilon-MDS and Geoscientific Applications
Scheffzuk, Ch. - The Strain/Stress Diffractometer Epsilon-MDS and Geoscientific Applications
Книга (аналит. описание)
Автор: Scheffzuk, Ch.
Stress and Texture Investigations by Means of Neutron Diffraction: The Strain/Stress Diffractometer Epsilon-MDS and Geoscientific Applications
б.г.
ISBN отсутствует
Автор: Scheffzuk, Ch.
Stress and Texture Investigations by Means of Neutron Diffraction: The Strain/Stress Diffractometer Epsilon-MDS and Geoscientific Applications
б.г.
ISBN отсутствует
Книга (аналит. описание)
Scheffzuk, Ch.
The Strain/Stress Diffractometer Epsilon-MDS and Geoscientific Applications / Ch.Scheffzuk, K.Walther, A.Frischbutter, F.R.Schilling // Stress and Texture Investigations by Means of Neutron Diffraction = Исследование текстуры и внутренних напряжений методом дифракции нейтронов : Books of Abstracts of the International Conference (STI 2011), Dubna, June 6-9, 2011. – Dubna : JINR, 2011. – p.16. – (JINR ; E14-2011-41) .
Спец.(статьи,препринты) = С 344.1 - Методы и аппаратура для регистрации элементарных частиц и фотонов$
ОИЯИ = ОИЯИ (JINR)2011
Scheffzuk, Ch.
The Strain/Stress Diffractometer Epsilon-MDS and Geoscientific Applications / Ch.Scheffzuk, K.Walther, A.Frischbutter, F.R.Schilling // Stress and Texture Investigations by Means of Neutron Diffraction = Исследование текстуры и внутренних напряжений методом дифракции нейтронов : Books of Abstracts of the International Conference (STI 2011), Dubna, June 6-9, 2011. – Dubna : JINR, 2011. – p.16. – (JINR ; E14-2011-41) .
Спец.(статьи,препринты) = С 344.1 - Методы и аппаратура для регистрации элементарных частиц и фотонов$
ОИЯИ = ОИЯИ (JINR)2011