Электронный каталог

Статья

Liu, Z.
Total Ionizing Dose Effects in High Voltage Devices for Flash Memory / Z.Liu, [a.o.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B : Beam Interactins with Materials and Atoms. – 2010. – Vol.268, No.23. – p.3498-3503. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2010.09.012. – Bibliogr.:17.



Спец.(статьи,препринты) = С 349 а - Дозиметрия различных видов излучения. Абсолютные измерения потоков