Электронный каталог

Книга
С36 Л-227

Ланно, Мишель.
Точечные дефекты в полупроводниках:Теория / Мишель Ланно, Жак Бургуэн ; Пер. с англ.: Ю.М.Гальперин ; [и др.] ; Ред. пер. с англ.: В.Л.Гуревич. – М. : Мир, 1984. – 263 с. : ил. – Библиогр.: с.7,с.248-253. – Пер.изд.: Point defects in semicondactors / M.Lanno, J.Bourgoin{ Berlin etc.,1981}.

С36


Индексный (книги) = С 36.71 - Физика полупроводников. Структура полупроводников. Кристаллическая решетка полупроводников. Структурный анализ, дефекты, твердые растворы полупроводников. Аморфные полупроводники. Тонкие слои полупроводников. Радиационные эффекты в полупроводниках. Механические свойства полупроводников. Электрические и магнитные свойства полупроводников. Тепловые свойства полупроводников. Кинетические явления в полупроводниках (фазовые равновесия, фазовые превращения, теплоемкость, теплопроводность, диффузия и самодиффузия)