Электронный каталог

Статья

Smit, Z.
Concentration Profiles in Paint Layers Studied by Differential PIXE / Z.Smit, [a.o.] // Nuclear Instruments & Methods in Physics Research B : Beam Interactins with Materials and Atoms. – 2008. – Vol.266, No.9. – p.2047-2059. – URL: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2008.03.191. – Bibliogr.:32.



Спец.(статьи,препринты) = С 44 г - Физико-химические методы анализа элементов. Анализ с помощью ядерных методов