Электронный каталог

Статья

Иванов, А.М.
Влияние облучения электронами и протонами на характеристики поверхностно-барьерных структур SiC-детекторов / А.М.Иванов, [и др.] // Физика и техника полупроводников. – 2008. – Т.42,No.3. – с.370-377. – URL: http://www.ioffe.rssi.ru/journals/ftp/2008/03/p370-377.pdf. – Библиогр.:19.



Спец.(статьи,препринты) = С 344.1 - Методы и аппаратура для регистрации элементарных частиц и фотонов$
Спец.(статьи,препринты) = Ц 73 - Радиоаппаратура и радиодетали