Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Книги в рубрике:
Рубрики
--> С 3 - Физика
----> С 34 - Ядерная физика
------> С 349 - Дозиметрия и физика защиты
--------> С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Печать списка
Доступно
1 из 1
--> С 3 - Физика
----> С 34 - Ядерная физика
------> С 349 - Дозиметрия и физика защиты
--------> С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Рубрика
- Название:
- С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Печать списка
Связанные описания:
![](http://lib.jinr.ru:8080/OpacUnicode/app/webroot/img//progress.gif)
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
Статья
Li, X.
Simultaneous and Sequential Radiation Effects on NPN Transistors Induced by Protons and Electrons
б.г.
ISBN отсутствует
Li, X.
Simultaneous and Sequential Radiation Effects on NPN Transistors Induced by Protons and Electrons
б.г.
ISBN отсутствует
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
Статья
Zhen, Z.
Single Event Burnout Hardening of Enhancement Mode HEMTs with Double Field Plates
б.г.
ISBN отсутствует
Zhen, Z.
Single Event Burnout Hardening of Enhancement Mode HEMTs with Double Field Plates
б.г.
ISBN отсутствует
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
Статья
Kastriotou, M.
Single Event Effect Testing with Ultrahigh Energy Heavy Ion Beams
б.г.
ISBN отсутствует
Kastriotou, M.
Single Event Effect Testing with Ultrahigh Energy Heavy Ion Beams
б.г.
ISBN отсутствует
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/custom/dubna/12.gif)
Доступно
1 из 1
Препринты
Chiodini, G.
Single Event Upset Rate of 140Mb/s Pixel-Data Serializer
ISBN отсутствует
Chiodini, G.
Single Event Upset Rate of 140Mb/s Pixel-Data Serializer
Серия: FERMILAB-Conf
FERMILAB, 2003 г.ISBN отсутствует
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
Статья
Zhang, L.
Single Event Upset Sensitivity of D-Flip Flop: Comparison of PDSOI with Bulk Si at 130 nm Technol...
б.г.
ISBN отсутствует
Zhang, L.
Single Event Upset Sensitivity of D-Flip Flop: Comparison of PDSOI with Bulk Si at 130 nm Technol...
б.г.
ISBN отсутствует
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
Статья
Mauguet, M.
Single Events Induced by Heavy Ions and Laser Pulses in Silicon Schottky Diodes
б.г.
ISBN отсутствует
Mauguet, M.
Single Events Induced by Heavy Ions and Laser Pulses in Silicon Schottky Diodes
б.г.
ISBN отсутствует
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
Статья
Mizuta, E.
Single-Event Damage Observed in GaN-on-Si HEMTs for Power Control Applications
б.г.
ISBN отсутствует
Mizuta, E.
Single-Event Damage Observed in GaN-on-Si HEMTs for Power Control Applications
б.г.
ISBN отсутствует
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
Статья
Zhao, W.
Single-Event Double Transients in Inverter Chains Designed with Different Transistor Widths
б.г.
ISBN отсутствует
Zhao, W.
Single-Event Double Transients in Inverter Chains Designed with Different Transistor Widths
б.г.
ISBN отсутствует
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
Статья
Cai, Y.
Single-Event Effects in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors: SET and SEL
б.г.
ISBN отсутствует
Cai, Y.
Single-Event Effects in Pinned Photodiode CMOS Image Sensors: SET and SEL
б.г.
ISBN отсутствует
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
Статья
Bosser, A. L.
Single-Event Effects in the Peripheral Circuitry of a Commercial Ferroelectric Random Access Memory
б.г.
ISBN отсутствует
Bosser, A. L.
Single-Event Effects in the Peripheral Circuitry of a Commercial Ferroelectric Random Access Memory
б.г.
ISBN отсутствует
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
Статья
Takeuchi, K.
Single-Event Effects Induced on Atom Switch-Based Field-Programmable Gate Array
б.г.
ISBN отсутствует
Takeuchi, K.
Single-Event Effects Induced on Atom Switch-Based Field-Programmable Gate Array
б.г.
ISBN отсутствует
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
Статья
Mauguet, M.
Single-Event Latchup in a CMOS-Based ASIC Using Heavy Ions, Laser Pulses, and Coupled Simulation
б.г.
ISBN отсутствует
Mauguet, M.
Single-Event Latchup in a CMOS-Based ASIC Using Heavy Ions, Laser Pulses, and Coupled Simulation
б.г.
ISBN отсутствует
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
Статья
Artola, L.
Single-Event Latchup Modeling Based on Coupled Physical and Electrical Transient Simulations in C...
б.г.
ISBN отсутствует
Artola, L.
Single-Event Latchup Modeling Based on Coupled Physical and Electrical Transient Simulations in C...
б.г.
ISBN отсутствует
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
Статья
Chen, R.
Single-Event Multiple Transients in Conventional and Guard-Ring Hardened Inverter Chains Under Pu...
б.г.
ISBN отсутствует
Chen, R.
Single-Event Multiple Transients in Conventional and Guard-Ring Hardened Inverter Chains Under Pu...
б.г.
ISBN отсутствует
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
Статья
Casey, M. C.
Single-Event Response of 22-nm Fully Depleted Silicon-on-Insulator Static Random Access Memory
б.г.
ISBN отсутствует
Casey, M. C.
Single-Event Response of 22-nm Fully Depleted Silicon-on-Insulator Static Random Access Memory
б.г.
ISBN отсутствует
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
Статья
Campola, M. J.
Single-Event Transient Case Study for System-Level Radiation Effects Analysis
б.г.
ISBN отсутствует
Campola, M. J.
Single-Event Transient Case Study for System-Level Radiation Effects Analysis
б.г.
ISBN отсутствует
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
Статья
Chen, Z.
Single-Event Transient Characterization of a Radiation-Tolerant Charge-Pump Phase-Locked Loop Fab...
б.г.
ISBN отсутствует
Chen, Z.
Single-Event Transient Characterization of a Radiation-Tolerant Charge-Pump Phase-Locked Loop Fab...
б.г.
ISBN отсутствует
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
Статья
Chen, Y. P.
Single-Event Transient Induced Harmonic Errors in Digitally Controlled Ring Oscillators
б.г.
ISBN отсутствует
Chen, Y. P.
Single-Event Transient Induced Harmonic Errors in Digitally Controlled Ring Oscillators
б.г.
ISBN отсутствует
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
Статья
Nergui, D.
Single-Event Transients in SiGe HBTs Induced by Pulsed X-Ray Microbeam
б.г.
ISBN отсутствует
Nergui, D.
Single-Event Transients in SiGe HBTs Induced by Pulsed X-Ray Microbeam
б.г.
ISBN отсутствует
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
Статья
Chen, Y. P.
Single-Event Upset Characterization of Common First- and Second-Order All-Digital Phase-Locked Loops
б.г.
ISBN отсутствует
Chen, Y. P.
Single-Event Upset Characterization of Common First- and Second-Order All-Digital Phase-Locked Loops
б.г.
ISBN отсутствует
![](/OpacUnicode/app/webroot/img/doctypes/6.gif)
Статья
Tianqi, W.
Single-Event Upset Prediction in SRAMs Account for On-Transistor Sensitive Volume
б.г.
ISBN отсутствует
Tianqi, W.
Single-Event Upset Prediction in SRAMs Account for On-Transistor Sensitive Volume
б.г.
ISBN отсутствует