Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Книги в рубрике:
Рубрики
--> С 3 - Физика
----> С 34 - Ядерная физика
------> С 349 - Дозиметрия и физика защиты
--------> С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Печать списка
--> С 3 - Физика
----> С 34 - Ядерная физика
------> С 349 - Дозиметрия и физика защиты
--------> С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Рубрика
- Название:
- С 349.1 - Действие излучения на материалы$
Печать списка
Связанные описания:
Книга (аналит. описание)
Donkov, A. A.
Hydrogen and Helium Incorporated into Vacancy Clusters in Graphene on Copper, Iron, Tungsten Subs...
б.г.
ISBN отсутствует
Donkov, A. A.
Hydrogen and Helium Incorporated into Vacancy Clusters in Graphene on Copper, Iron, Tungsten Subs...
б.г.
ISBN отсутствует
На полку
Статья
Kaida, T.
Hydrogen Interstitial in H Ion Implanted ZnO Bulk Single Crystals: Evaluation by Elastic Recoil D...
б.г.
ISBN отсутствует
Kaida, T.
Hydrogen Interstitial in H Ion Implanted ZnO Bulk Single Crystals: Evaluation by Elastic Recoil D...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Jagielski, J.
Hydrogen Release from Irradiated Elastomers Measured by Nuclear Reaction Analysis
б.г.
ISBN отсутствует
Jagielski, J.
Hydrogen Release from Irradiated Elastomers Measured by Nuclear Reaction Analysis
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Li, X.
Hydrogen Soaking, Displacement Damage Effects, and Charge Yield in Gated Lateral Bipolar Junction...
б.г.
ISBN отсутствует
Li, X.
Hydrogen Soaking, Displacement Damage Effects, and Charge Yield in Gated Lateral Bipolar Junction...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Chen, Z.
Hydrogen-Related Recovery Effect of AlGaN/GaN High-Electron-Mobility Transistors Irradiated by Hi...
б.г.
ISBN отсутствует
Chen, Z.
Hydrogen-Related Recovery Effect of AlGaN/GaN High-Electron-Mobility Transistors Irradiated by Hi...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Yang, L.
Hyperfine Structure Variations in an Fe-Cr-Co Alloy Exposed to Electron Irradiation: Mossbauer S...
б.г.
ISBN отсутствует
Yang, L.
Hyperfine Structure Variations in an Fe-Cr-Co Alloy Exposed to Electron Irradiation: Mossbauer S...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Son, N. T.
Identification of a Frenkel-Pair Defect in Electron-Irradiated 3C SiC
б.г.
ISBN отсутствует
Son, N. T.
Identification of a Frenkel-Pair Defect in Electron-Irradiated 3C SiC
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Diez, S.
IHP SiGe:C BiCMOS Technologies as a Suitable Backup Solution for the ATLAS Upgrade Front-End Elec...
б.г.
ISBN отсутствует
Diez, S.
IHP SiGe:C BiCMOS Technologies as a Suitable Backup Solution for the ATLAS Upgrade Front-End Elec...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Wang, Z.
Image Analysis of Single Event Transient Effects on Charge Coupled Devices Irradiated by Protons
б.г.
ISBN отсутствует
Wang, Z.
Image Analysis of Single Event Transient Effects on Charge Coupled Devices Irradiated by Protons
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Onoda, S.
Impact of Auger Recombination on Charge Collection of a 6H-SiC Diode by Heavy Ions
б.г.
ISBN отсутствует
Onoda, S.
Impact of Auger Recombination on Charge Collection of a 6H-SiC Diode by Heavy Ions
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Schmidt, J.
Impact of Breakdown Voltage on Gamma Irradiation Effects in 0.13-*mm and 0.25-*mm SiGe HBTs
б.г.
ISBN отсутствует
Schmidt, J.
Impact of Breakdown Voltage on Gamma Irradiation Effects in 0.13-*mm and 0.25-*mm SiGe HBTs
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Aguiar, Y. Q.
Impact of Complex Logic Cell Layout on the Single-Event Transient Sensitivity
б.г.
ISBN отсутствует
Aguiar, Y. Q.
Impact of Complex Logic Cell Layout on the Single-Event Transient Sensitivity
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Artola, L.
Impact of D-Flip-Flop Architectures and Designs on Single-Event Upset Induced by Heavy Ions
б.г.
ISBN отсутствует
Artola, L.
Impact of D-Flip-Flop Architectures and Designs on Single-Event Upset Induced by Heavy Ions
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Rezaei, M.
Impact of Dynamic Voltage Scaling on SEU Sensitivity of COTS Bulk SRAMs and A-LPSRAMs Against Pro...
б.г.
ISBN отсутствует
Rezaei, M.
Impact of Dynamic Voltage Scaling on SEU Sensitivity of COTS Bulk SRAMs and A-LPSRAMs Against Pro...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Ismayil
Impact of Electron-Beam Irradiation on Free-Volume Related Microstructural Properties of PVA: NaB...
б.г.
ISBN отсутствует
Ismayil
Impact of Electron-Beam Irradiation on Free-Volume Related Microstructural Properties of PVA: NaB...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Koul, D. K.
Impact of Firing on the OSL Luminescence Properties of Natural Quartz: A Case Study
б.г.
ISBN отсутствует
Koul, D. K.
Impact of Firing on the OSL Luminescence Properties of Natural Quartz: A Case Study
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Emeliyanov, V. V.
Impact of Heavy Ion Energy on Charge Yield in Silicon Dioxide
б.г.
ISBN отсутствует
Emeliyanov, V. V.
Impact of Heavy Ion Energy on Charge Yield in Silicon Dioxide
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Vepsalainen, A. P.
Impact of Ionizing Radiation on Superconducting Qubit Coherence
б.г.
ISBN отсутствует
Vepsalainen, A. P.
Impact of Ionizing Radiation on Superconducting Qubit Coherence
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Abe, S.
Impact of Irradiation Side on Neutron-Induced Single-Event Upsets in 65-nm Bulk SRAMs
б.г.
ISBN отсутствует
Abe, S.
Impact of Irradiation Side on Neutron-Induced Single-Event Upsets in 65-nm Bulk SRAMs
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Adam, W.
Impact of Low-Dose Electron Irradiation on n*+p Silicon Strip Sensors
б.г.
ISBN отсутствует
Adam, W.
Impact of Low-Dose Electron Irradiation on n*+p Silicon Strip Sensors
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Roig, F.
Impact of Neutron-Induced Displacement Damage on the ATREE Response in LM124 Operational Amplifier
б.г.
ISBN отсутствует
Roig, F.
Impact of Neutron-Induced Displacement Damage on the ATREE Response in LM124 Operational Amplifier
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Tanaka, T.
Impact of Neutron-Induced SEU in FPGA CRAM on Image-Based Lane Tracking for Autonomous Driving: f...
б.г.
ISBN отсутствует
Tanaka, T.
Impact of Neutron-Induced SEU in FPGA CRAM on Image-Based Lane Tracking for Autonomous Driving: f...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Wei, J.
Impact of Ring-Shaped Collector Contact on Total Ionizing Dose Susceptibility of Vertical n-p-n B...
б.г.
ISBN отсутствует
Wei, J.
Impact of Ring-Shaped Collector Contact on Total Ionizing Dose Susceptibility of Vertical n-p-n B...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Tonigan, A. M.
Impact of Surface Recombination on Single-Event Charge Collection in an SOI Technology
б.г.
ISBN отсутствует
Tonigan, A. M.
Impact of Surface Recombination on Single-Event Charge Collection in an SOI Technology
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Abdullaev, A.
Impact of Swift Heavy Ion-Induced Point Defects on Nanoscale Thermal Transport in ZnO
б.г.
ISBN отсутствует
Abdullaev, A.
Impact of Swift Heavy Ion-Induced Point Defects on Nanoscale Thermal Transport in ZnO
б.г.
ISBN отсутствует