Поиск :
Личный кабинет :
Электронный каталог: Книги в рубрике:
Рубрики
--> С 3 - Физика
----> С 33 - Атомная физика
------> С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$
Печать списка
Доступно
3 из 3
Доступно
3 из 3
--> С 3 - Физика
----> С 33 - Атомная физика
------> С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$
Рубрика
- Название:
- С 33 а - Нанофизика. Нанотехнология$
- См. также:
- Nanophysics. Nanotechnology
Печать списка
Связанные описания:
На полку
Книга (аналит. описание)
Сударев, В.В.
Применение метода малоуглового рентгеновского рассеяния для контроля самосборки белковых наночастиц
б.г.
ISBN отсутствует
Сударев, В.В.
Применение метода малоуглового рентгеновского рассеяния для контроля самосборки белковых наночастиц
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Хашим, Х.
Применение метода спектральной эллипсометрии для характеризации наноразмерных пленок с ферромагни...
б.г.
ISBN отсутствует
Хашим, Х.
Применение метода спектральной эллипсометрии для характеризации наноразмерных пленок с ферромагни...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Вдовичев, С.Н.
Применение методов определения центра окружности в задачах фотолитографии
б.г.
ISBN отсутствует
Вдовичев, С.Н.
Применение методов определения центра окружности в задачах фотолитографии
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Нищев, К.Н.
Применение методов РЭМ и СЗМ для исследования наноструктур, формирующихся в процессе анодирования...
б.г.
ISBN отсутствует
Нищев, К.Н.
Применение методов РЭМ и СЗМ для исследования наноструктур, формирующихся в процессе анодирования...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Погребняк, А.Д.
Применение микро- и нанозондов для анализа малоразмерных 3D материалов, наносистем и нанообъектов
б.г.
ISBN отсутствует
Погребняк, А.Д.
Применение микро- и нанозондов для анализа малоразмерных 3D материалов, наносистем и нанообъектов
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Хадад, К.
Применение наножидкостей в качестве теплоносителя первого контура реактора ВВЭР-1000
б.г.
ISBN отсутствует
Хадад, К.
Применение наножидкостей в качестве теплоносителя первого контура реактора ВВЭР-1000
б.г.
ISBN отсутствует
Доступно
3 из 3
Препринты
Маслов, О.Д.
Применение наноструктурного материала для разделения *2*3*8U и *2*3*7U, получаемого в фотоядерной...
ISBN отсутствует
Маслов, О.Д.
Применение наноструктурного материала для разделения *2*3*8U и *2*3*7U, получаемого в фотоядерной...
Серия: ОИЯИ
ОИЯИ, 2009 г.ISBN отсутствует
Заказать
Статья
Юшкин, А.А.
Применение пленок на основе целлофана в качестве нанофильтрационных мембран
б.г.
ISBN отсутствует
Юшкин, А.А.
Применение пленок на основе целлофана в качестве нанофильтрационных мембран
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Кожевников, С.В.
Применение поляризованного микропучка нейтронов для исследования магнитной микроструктуры
б.г.
ISBN отсутствует
Кожевников, С.В.
Применение поляризованного микропучка нейтронов для исследования магнитной микроструктуры
б.г.
ISBN отсутствует
Доступно
3 из 3
Препринты
Кожевников, С.В.
Применение поляризованного микропучка нейтронов для исследования магнитной микроструктуры
ISBN отсутствует
Кожевников, С.В.
Применение поляризованного микропучка нейтронов для исследования магнитной микроструктуры
Серия: ОИЯИ
ОИЯИ, 2012 г.ISBN отсутствует
Статья
Глезер, А.М.
Применение принципа инженерии границ зерен для реализации предельной (теоретической) прочности на...
б.г.
ISBN отсутствует
Глезер, А.М.
Применение принципа инженерии границ зерен для реализации предельной (теоретической) прочности на...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Жуков, А.А.
Применение стандартной полуконтактной моды атомно-силового микроскопа для локального исследования...
б.г.
ISBN отсутствует
Жуков, А.А.
Применение стандартной полуконтактной моды атомно-силового микроскопа для локального исследования...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Волков, Р.Л.
Применение фокусированного ионного пучка для приготовления образцов для электронно-микроскопическ...
б.г.
ISBN отсутствует
Волков, Р.Л.
Применение фокусированного ионного пучка для приготовления образцов для электронно-микроскопическ...
б.г.
ISBN отсутствует
Статья
Астафьев, С.Б.
Применение частотно-временного вейвлет-анализа в рефрактометрии тонких пленок
б.г.
ISBN отсутствует
Астафьев, С.Б.
Применение частотно-временного вейвлет-анализа в рефрактометрии тонких пленок
б.г.
ISBN отсутствует